Museología crítica: temas selectos. Reflexión desde la Cátedra William Bullock
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Museología crítica: temas selectos. Reflexión desde la Cátedra William Bullock

Critical Museology: Selected Themes Reflections from the William Bullock Lecture Series

Formatos

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Estado: Activo
ISBN-13: 9786073015036
Tipo de contenido principal: Texto (legible a simple vista)
Idioma del texto: Español
Idioma del texto: Inglés
Tamaño: 13 x 19 x 2.3 cm
Peso: 0.298 kg
Número absoluto de páginas: 392 Páginas
Sello editorial: Dirección General de Artes Visuales
Sello editorial: Instituto Nacional de Bellas Artes y Literatura
Publicado en nombre de: Universidad Nacional Autónoma de México - UNAM
Tipo de edición: Nueva edición
Número de edición: 1
Ciudad de publicación: Ciudad de México
País de publicación: México
Fecha de publicación: 2019
Tipo de restricción de venta: Exclusivo para un punto o canal de venta
Distribuidor de la editorial: Universidad Nacional Autónoma de México
Disponibilidad del producto: Disponible. Sin detalles.
Precio: (MXN) 250

Profesional / académico


Destinatarios del contenido: Sin restricción

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