Museología crítica: temas selectos. Reflexión desde la Cátedra William Bullock
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Museología crítica: temas selectos. Reflexión desde la Cátedra William Bullock

Critical Museology: Selected Themes Reflections from the William Bullock Lecture Series

Formatos

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Estado: Activo
ISBN-13: 9786073015036
Tipo de contenido principal: Texto (legible a simple vista)
Idioma del texto: Español
Idioma del texto: Inglés
Tamaño: 13 x 19 x 2.3 cm
Número absoluto de páginas: 392 Páginas
Sello editorial: Dirección General de Artes Visuales
Sello editorial: Instituto Nacional de Bellas Artes y Literatura
Publicado en nombre de: Universidad Nacional Autónoma de México
Tipo de edición: Nueva edición
Número de edición: 1
País de publicación: México
Fecha de publicación: 2019
Tipo de restricción de venta: Exclusivo para un punto o canal de venta
Distribuidor de la editorial: Universidad Nacional Autónoma de México
Disponibilidad del producto: Disponible. Sin detalles.
Precio: (MXN) 250

Profesional / académico

Con la finalidad de nutrir la aún incipiente bibliografía sobre la museología crítica en el ámbito iberoamericano, este volumen da cuenta de los debates que la Cátedra Extraordinaria "William Bullock" ha propiciado desde sus inicios acerca de estos temas. Estudiar los espacios museales, sus propósitos, políticas y funciones como parte de la sociedad actual, hace visibles las tensiones y conflictos, así como los cruces culturales y los debates más relevantes que se gestan dentro del momento contemporáneo.

  • Artes visuales